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技术发展
安立公司将携PCIe 4.0/PAM4等高速测试方案出席DesignCon2018
日期:2018.01.26



全球最知名的信号完整性和电子设计峰会DesignCon2018即将于2018年1月30日至2月1日在美国加利福尼亚圣克拉拉的圣克拉拉会议中心举行。


作为高速信号测试方案的有力提供者之一,安立公司近年来每年都会作为赞助商参与峰会,今年也不例外,安立公司再次作为白金赞助商,携其最新的PAM4 BER测试、PCIe 4.0接收机测试、100G测试等方案亮相DesignCon2018大会。

在展台上展示的内容将包括:
200/400G PAM4 BER测试 (IEEE 802.3, CEI, IBTA)
100G AOC抖动容限测试
一体化可携带25G/100Gbase-CR4/KR4误码率+RS-FEC测试方案
高速串行接口接收机测试 (PCIe 4.0, Thunderbolt™, USB 3.0)
PCIe 4.0接收机一致性测试
70 GHz 4端口VNA信号完整性
43.5 GHz 4端口VNA信号完整性
自动化VNA SI一致性



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