当开关设备接点间的放电等由感性负载的通断以及电子马达所产生的电弧放电，从而导致的偶发性的上升时间极快的高频噪声的发生。

这些噪声通过电源线直接传导到电子设备的内部，或是通过附近／并行的信号线以诱导的方式进行侵入，耦合到电子设备的回路或是基板上，产生反射、共振、增强等现象，从而使得电子机器内部的IC等出现误动作。

INS系列就是模拟产生这类噪声的，用来评价电子设备的抗扰度性能的试验器。

INS系列满足日本的NECA（日本电气控制工业会）以及JEMA（日本电机工业会）等所发行的几个不同的标准。